X-ışını kırınımı kullanılarak katılardaki atom ve molekül yapıları hakkındaki bilgiler elde edilir. Analiz sırasında numuneye gönderilen elektromanyetik dalga, kendi boyu ile karşılaştırılabilir aralığa sahip, düzenli yerleşmiş bir dizi engelle karşılaşırsa kırınım olur. Bu kırınım profilleri bir nevi parmak izi gibi analiz sırasında numunede bulunan kristallerin tanımlanmasını sağlar. X-Işını Kırınım analiz metodu, analiz sırasında numuneyi tahrip etmez ve çok az miktardaki numunelerin dahi analizlerinin yapılmasını sağlar. Numuneler toz, kitlesel boyutta ve ince film halinde olabilir.
X-Işını Kırınım cihazıyla metallerin, seramiklerin, polimerlerin, kompozitlerin ve nanomalzemelerin yapısal incelemeleri gerçekleştirilebilir.
Örnek Hazırlanması ve Ölçümü
Malzemenin fiziksel ve kimyasal özelliklerini korumaya özen gösterilerek numune hazırlandıktan sonra analiz şartları belirlenir. En basit haliyle, katı malzeme uygun şekilde öğütülür, numune tutucuya yerleştirilir ve böylece numune inceleme süreci başlatılır.
Cihaz ile Yapılabilen Uygulamalar
XRD yani X-Işını Kırınım cihazı oldukça geniş bir uygulama alanına sahiptir:
Cihazla ilgili teknik ayrıntılar için PDF dosyasını görüntüleyin.